Seminář o elektronové mikroskopii

2011-11-08

Dne 8. listopadu 2011 se konal na Fakultě strojního inženýrství v prostorách Ústavu materiálových věd a inženýrství jednodenní seminář o elektronové mikroskopii. V rámci semináře byly předneseny dvě přednášky "Helium Ion Microscopy and other advanced analytical microscopy tachniques" a "Low loss BSE application on materials". Přednášejícími byli Dr. Peter Gnauck a Dr. Heiner Jaksch. Prezentace přednášek byly průběžně doplňovány diskuzí a jednotlivými uváděnými fakty a samotné přednášky přešly v neformální diskuzi účastníků. Seminář byl součástí aktivit v rámci spolupráce firemního sektoru a vědecké instituce při přípravě centra pokročilé analytické elektronové mikroskopie vývoji schopného poskytovat podporu jednak vědeckým pracovníkům při výzkumné práci, i studentům při získávání zkušeností s pokročilými technikami v rámci magisterského, inženýrského i postgraduálního studia.