2010-09-21
Místo konání: Ústav materiálových věd a inženýrství, Fakulta strojního inženýrství, VUT v Brně
Pořádající: Firma Measurement Technic Moravia Ltd., Veeco a FSI VUT v Brně
Přednášející: Dr. Dušan Novotný, Mgr. Felix Holáň (společnost Measurement Technic Moravia Ltd.), Hartmut Stadler (Německo, aplikační inženýr firmy Veeco)
V úterý 21. 9. 2010 se uskutečnil v prostorách Ústavu materiálových věd a inženýrství Fakulty strojního inženýrství VUT v Brně seminář zaměřený na problematiku optické interferenční profilometrie. Úvodní část semináře byla věnována prezentaci společnosti Measurement Technic Moravia Ltd., která se zabývá měřicí technikou pro charakterizaci materiálů a pro měření fyzikálních vlastností látek. Společně s partnery, jako jsou firmy VEECO, AVANTES, THASS, SII NT, Optronic Laboratories, TechnoTeam, Brookhaven Instruments, AICON a ASTRO nabízí přístroje a služby pro měření v oblasti nanomateriálů, optických systémů, displejové techniky, nátěrových hmot a povrchových úprav, barevnosti materiálů, průmyslových rentgenů, termických analýz, charakterizace částic atd.
V další části semináře si vzal slovo Mgr. Felix Holáň, který seznámil účastníky s podstatou a principem optické interferenční profilometrie. Představil schéma a instrumentaci optických profilometrů, výhody, limitní možnosti a zaměření pro různé aplikace. Následně byl aplikačním inženýrem Hartmutem Stadlerem představen nový typ optického profilometru Contour GT-K1. Prezentace byla věnována seznámení s daným typem zařízení, jeho aplikačních možností, ovládáním, nástroji, principem, softwarovými možnostmi a výstupy z měření. Zvláštní pozornost byla kladena na ukázku aplikačních možností zařízení v oblasti materiálů, povrchových úprav, hodnocení korozní degradace, povrchových reliéfů atd. V závěru semináře byla demonstrace hodnocení vlastních vzorků. Dle odborného zaměření účastníků bylo provedeno například vyhodnocení defektů povrchu, byla hodnocena porózita kopolymerů nebo byla stanovena hloubka korozního napadení u hořčíkových slitin atd.
Vlastního semináře, představení nového optického profilometru a ukázek měření se zúčastnilo cca 15 studentů specializace 4. a 5. ročníku specializace „Materiálové inženýrství“ a cca 10 odborných pracovníků z Ústavu materiálových věd a inženýrství, Ústavu konstruování a Ústavu fyzikálního inženýrství na FSI VUT Brně. Semináře se dále účastnili pracovníci z pracoviště Akademie věd ČR (Ústav fyziky materiálů a Ústav přístrojové techniky) a odborní asistenti a studenti doktorského studia z Fakulty chemické VUT v Brně.
Vzhledem ke vstřícnosti společnosti Measurement Technic Moravia Ltd. a dlouhodobé spolupráci s Ústavem materiálových věd a inženýrství byl nový typ optického interferenční profilometru Contour GT-K1 zapůjčen na následujících 10 dnů. Aplikační inženýrem byli zaškoleni vybraní pracovníci a studenti, kteří následně využívali zařízení pro hodnocení experimentálního materiálu pro závěrečné práce a projekty GAČR.
